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WAVERAY · OPTICAL ENGINEERING SOFTWARE

WaveRay 光學模擬軟體

面向光學分析、成像品質與計算光學的產品化工程平台

WaveRay 將幾何光學、成像分析、傅立葉光學、波前分析、公差評估與工程計算整合為一個可持續擴充的光學軟體產品。頁面採用報告式下拉結構，方便從核心能力、典型工作流程到模組介面逐段了解產品。

Optical SimulationLens DesignRay TracingMTF / PSF / OTFFourier OpticsGaussian BeamZernike WavefrontMonte Carlo Tolerance
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支援平台Windows 桌面版用於深度工程分析；Android 版本用於行動光學計算與便攜式工具場景。
核心方向光線追跡、透鏡分析、成像品質評估、傅立葉光學、波前分析、公差與計算光學。
頁面結構先看介面輪播預覽，再看四個能力主題，最後向下瀏覽詳細圖文介紹。

PRODUCT GALLERY

WaveRay 光學模擬軟體介面與功能預覽

首頁區域改為輪播式展示，用一組真實截圖快速介紹產品能力。

WaveRay thin and thick lens analysis
薄透鏡與厚透鏡分析介面，適合進行焦距、放大率、景深、視場等基礎光學計算。
WaveRay sequential ray tracing
序列光線追跡視圖，用於觀察光路傳播、像面位置與系統層級成像路徑。
WaveRay slanted edge MTF
斜邊 MTF 分析介面，可評估成像清晰度與系統成像品質。
WaveRay FFT and image processing
FFT 與頻域影像處理模組，串接影像分析與傅立葉光學流程。
WaveRay pupil PSF OTF MTF
瞳孔函數、PSF、OTF 與 MTF 的聯合分析，適合成像系統性能評估。
WaveRay Gaussian beam ABCD
高斯光束 ABCD 計算介面，可分析光束傳播與參數變化。
WaveRay Zernike wavefront workbench
Zernike 波前工作台，用於像差、波前與系統誤差分析。
WaveRay Monte Carlo tolerance analysis
蒙地卡羅公差模組，用於評估裝配偏差與製造誤差對系統的影響。

OVERVIEW

WaveRay 光學工程核心功能

參考你給的排版思路，這裡先用四個主題做概覽卡片；點擊後會直接跳轉到下方的圖文詳細介紹。

01

透鏡與一階設計

圍繞薄透鏡、厚透鏡、焦距、放大率、景深與視場，完成快速建模與基礎光學估算。

02

光線追跡與公差

從序列光線追跡到蒙地卡羅公差分析，檢查系統傳播路徑與工程穩健性。

03

成像品質與傅立葉光學

透過斜邊 MTF、PSF、OTF 與 FFT 等工具串接影像品質評估與物理光學分析。

04

高斯光束與波前

圍繞 Gaussian ABCD 與 Zernike 波前，服務於雷射系統、像差分析與更高階工程研究。

01 · LENS & FIRST-ORDER DESIGN

透鏡設計與一階光學分析

WaveRay 的第一組能力聚焦於一階光學與透鏡基礎設計。對於需要快速估算焦距、放大率、景深、視場角、CCD/CMOS 尺寸關係的使用者，這一部分可作為光學方案的起點。

  • 薄透鏡 / 厚透鏡分析與參數計算
  • 視場、景深、放大率與成像幾何關係分析
  • CCD / CMOS 尺寸與光學參數聯動
  • 適合教學、方案初算與工程前期評估
這一部分的價值在於快速：用一個整潔的軟體介面取代手算、分散腳本或零散表格。
WaveRay thin and thick lens analysis
薄透鏡與厚透鏡模組：適合進行焦距、景深與成像關係分析。
WaveRay sequential ray tracing
在基礎參數設定後，可以自然過渡到系統層級光路檢查。

02 · RAY TRACING & TOLERANCE

光線追跡與光學公差分析

在真實光學工程中，能否追蹤光路只是第一步，更重要的是分析系統對加工誤差、裝調誤差與參數波動的敏感性。WaveRay 在這裡把光線追跡與蒙地卡羅公差分析串聯起來。

  • 序列光線追跡，用於查看成像路徑與像面關係
  • 蒙地卡羅公差分析，用於評估製造誤差影響
  • 面向工程最佳化，而不只是課堂示範
若後續持續擴充，這一部分可自然延伸到 spot diagram、ray fan、容差預算與更複雜的系統最佳化流程。
WaveRay sequential ray trace
序列光線追跡模組：用於檢查系統層級光路與成像傳播。
WaveRay Monte Carlo tolerance
蒙地卡羅公差分析：幫助工程師評估偏差對系統結果的影響。

03 · IMAGING QUALITY & FOURIER OPTICS

MTF、PSF、OTF 與傅立葉光學分析

WaveRay 不只是做光路計算，也把影像品質評估與傅立葉光學處理納入產品流程。對光學系統開發者而言，這代表可以從系統參數走到影像品質，再由影像表現回推系統問題。

  • 斜邊 MTF 適合真實影像清晰度量測
  • PSF / OTF / MTF 聯動分析成像性能
  • FFT 與頻域處理串接物理光學與影像演算法
這一段尤其適合放更多關鍵字，方便 Google 搜尋：MTF software、PSF analysis、OTF analysis、Fourier optics software、image quality analysis。
WaveRay slanted edge MTF analysis
斜邊 MTF：面向清晰度評估與成像品質分析。
WaveRay pupil PSF OTF MTF
PSF、OTF 與 MTF 的聯合視圖：適合系統性能的綜合判斷。
WaveRay FFT frequency domain image processing
FFT 與頻域影像處理：串接光學系統分析與影像演算法實驗。

04 · GAUSSIAN BEAM & WAVEFRONT

高斯光束與 Zernike 波前分析

對於更偏雷射系統、高階像差研究或精密成像應用，WaveRay 提供 Gaussian Beam ABCD 與 Zernike 波前分析介面。這一塊有助於把基礎幾何光學進一步延伸到更複雜的工程問題。

  • Gaussian Beam ABCD 用於雷射傳播與光束參數分析
  • Zernike 波前分解適合像差與波前品質評估
  • 適合擴展到更完整的 PSF、像差與最佳化工作流程
如果後續做商業化升級，這一主題還能繼續衍生為更高價值的專業模組，如波前預算、雷射光路設計、系統像差報告等。
WaveRay Gaussian beam ABCD
Gaussian Beam ABCD：適用於雷射與高斯光束系統。
WaveRay Zernike wavefront workbench
Zernike 波前工作台：適合波前分析、像差理解與系統品質判斷。

WaveRay 頁面改版後的呈現邏輯

整體結構從原本的左右式展示，改成更像產品報告的下拉式說明：上方先做圖像輪播展示，中間用四個主題卡片建立結構感，下方再逐段進入圖文並茂的詳細介紹。這樣更適合展示軟體產品，也更利於做 SEO、後續擴充與使用者理解。

適合持續擴充

後續再加入更多功能模組時，可繼續往下新增專題段落。

更像產品官網

相較單純拼圖式版面，這種方式更能突顯軟體能力與產品敘事。

更利於 SEO

每個模組都能承載更多相關關鍵字與文字說明，方便 Google 收錄。

使用者閱讀更順

使用者可以先看概覽，再依興趣深入某一模組，不會一開始就被複雜內容壓住。