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WAVERAY · 案例与教程

Exact Sequential Ray Trace

执行精确顺序光线追迹,并查看系统与面数据。

本教程演示如何在 WaveRay 中完成“Exact Sequential Ray Trace”,使用与主题精确匹配的真实软件截图,讲解设置、运行、结果读取与常见注意事项。

本教程将完成什么

执行精确顺序光线追迹,并查看系统与面数据。

开始之前:你需要能运行该产品,并尽量使用自己的真实参数或数据来跟着操作。以下截图已经按主题人工重配,避免前一版出现的图文错配。
Exact Sequential Ray Trace - 打开对应模块并确认起始状态。
打开对应模块并确认起始状态。
Exact Sequential Ray Trace - 配置与主题匹配的关键输入。
配置与主题匹配的关键输入。
Exact Sequential Ray Trace - 运行流程并检查结果 / 状态。
运行流程并检查结果 / 状态。

逐步操作

1打开模块

打开 Exact Sequential Ray Trace。 先确认当前页面与本教程主题一致。

2配置输入

准备并检查:光学系统结构、面参数与追迹条件。

3运行并观察状态

确认系统参数后运行追迹,查看表格化的系统结果。 运行时同时观察界面状态、图表或日志区域。

4读取结果

重点查看:顺序追迹结果与系统面参数概览。

5验证并迭代

顺序光线追迹对系统结构一致性要求很高,修改面参数后应重新检查整体定义。 建议只修改一个关键参数后再次运行,以便验证结果变化是否符合预期。

如何读取结果

  • 本流程最重要的结果是:顺序追迹结果与系统面参数概览。
  • 解释结果时要结合本次输入参数,单独看截图往往不够。
  • 顺序光线追迹对系统结构一致性要求很高,修改面参数后应重新检查整体定义。

常见问题与实用提示

  • 如果界面没有变化,先检查是否打开了正确模块。
  • 如果结果明显不合理,优先检查单位、数据字段映射和输入量级。
  • 做对比实验时尽量一次只修改一个关键参数。